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探針臺/冷熱臺測試儀系列
冷熱探針臺
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半導(dǎo)體冷熱探針臺,用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能,也可用變溫光學(xué)測試、變溫電學(xué)測試、材料表征等分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)等系統(tǒng)中的重要部件。
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